高校熱用可程式恒溫恒濕箱是一款采用可編程控制器作為主要控制系統(tǒng)的高低溫濕度試驗(yàn)箱，功能有高溫烘干、高溫恒溫、你低溫耐寒、低溫恒溫、高溫恒濕、低溫低濕、恒溫恒濕、高低溫濕度循環(huán)、交變、恒定等等，簡(jiǎn)稱可編程高低溫濕度試驗(yàn)箱。

由東莞市柳沁檢測(cè)儀器有限公司生產(chǎn)、銷售、服務(wù)，主要滿足于電工，電子，電器、電池、光電、汽車、船舶、軍工、塑膠、安防產(chǎn)品、精密儀器，LED顯示器、玩具等各行業(yè)產(chǎn)品做耐低溫、耐高溫、耐濕度性能測(cè)試，讓各類工業(yè)產(chǎn)品接受人工模擬自然界的溫濕度環(huán)境做各方面的嚴(yán)苛檢測(cè)試驗(yàn)。

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求。

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法。

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。

GJB150.9-1986《設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)》。

GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》。

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)。

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)。

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-2008（IEC68-2-3）。

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-2008(IEC68-2-30)。

高校熱用可程式恒溫恒濕箱的技術(shù)參數(shù)：

1.控制儀內(nèi)箱尺寸:W40×H50×D40cm；W50×H60×D50cm；W50×H75×D60cm；W60×H85×D80cm。

2.控制儀外箱尺寸約：以實(shí)際尺寸為準(zhǔn)，或咨詢業(yè)務(wù)員確認(rèn)。

3.溫/濕度范圍：0℃～150℃；-20℃～150℃；-40℃～150℃；-70℃～150℃/20%~98%（溫度可選）。

4.升溫速度：常溫ß----->150℃       約60分鐘（升溫約3℃每分鐘）。

5.降溫速度：常溫ß----->-70℃       約100分鐘（升溫約1℃每分鐘）。

6.控制儀器精度：解析精度： ±0.01℃；溫度波動(dòng)度：±0.5℃；溫度均勻度：±2.0℃；濕度均勻度：±1%RH。